组件 组件常见EL缺陷 组件【jiàn】EL（Electroluminescence）检【jiǎn】测中文名为电致发光缺【quē】陷检【jiǎn】测，是根据硅材料的电致发光原理对组件进【jìn】行缺陷检【jiǎn】测。给晶体硅电池组件通入9-22.5倍Isc的正向电流，硅片会【huì】发【fā】出【chū】1000-1100nm的红外光【guāng】，同【tóng】时摄【shè】像头可以捕捉到【dào】这【zhè】 9-22 / 光伏
