组件 组件常见EL缺陷 组件EL（Electroluminescence）检测中【zhōng】文名【míng】为电致发光【guāng】缺陷检测，是【shì】根据硅材料的电致【zhì】发光原理【lǐ】对【duì】组件进行缺【quē】陷检测。给晶体硅电池组件通入9-22.5倍Isc的正向【xiàng】电【diàn】流，硅片会发出1000-1100nm的红【hóng】外光，同时摄像头可以捕【bǔ】捉【zhuō】到这 9-22 / 光伏
