组件 组件常见EL缺陷 组件EL（Electroluminescence）检测中文名为【wéi】电致发光缺陷检【jiǎn】测，是根【gēn】据【jù】硅材【cái】料的电致发【fā】光原理对组件进行【háng】缺陷检测【cè】。给【gěi】晶体【tǐ】硅电池组件通【tōng】入9-22.5倍Isc的正向电流，硅片【piàn】会发【fā】出1000-1100nm的红外光，同时摄像头可以捕【bǔ】捉到这 9-22 / 光伏
