组件 组件常见EL缺陷 组件EL（Electroluminescence）检测【cè】中文名为电【diàn】致发光缺陷检【jiǎn】测，是根据硅材料的电致【zhì】发光原理【lǐ】对组【zǔ】件进行缺陷检测。给晶体【tǐ】硅电池组件通【tōng】入9-22.5倍Isc的正【zhèng】向【xiàng】电流，硅片会发出1000-1100nm的红外光【guāng】，同【tóng】时摄像头可以捕捉到这 9-22 / 光伏
